0755-23031989
中文版
搜索
core data
核心数据
Product Center
产品中心
测试座
测试座
测试座可根据客户需求完全定制 ●BGA/LGA Pitch：0.3 ~1.27mm ●DFN/QFN Pitch ：0.4/0.5mm ●QFP Pitch：0.35/0.4/0.5mm
垂直探针卡
垂直探针卡
●测试针位精度可达±10μm ●待测物（DUT）上针痕细微 ●提供平针和尖针两种探针类型 ●适用于最小间距90μm的细间距应用 ●支持单针更换 ●维修周期短
WLCSP 探针头
WLCSP 探针头
●优异的信号完整性和高电流承载能力 ●定制化布局，组件间隙紧贴待测器件（DUT） ●适用于细间距应用（0.15~0.5mm） ●维护简便，安装快速 ●提供多种盖板设计选项，包括独立弹簧、芯片压……
Memory 更换套件
Memory 更换套件
适用分选机型 ●ADV:M6242,M6243,M6541,M6542 ●TW:TW350H,TW350HT ●MR:M500HT 适用IC规格 ●DDR3/DDR4/DDR5 ●LPDD……
Memory 更换套件
Memory 更换套件
ENMICRO 具备独立设计 仿真及公差链计算能力 形成闭环体系 确保接触可靠性。
Rubber
Rubber
关于容微

新闻动态
实时更新和了解我们的最新动态
查看更多
深圳市容微精密电子有限公司
深圳市容微精密电子有限公司
公司新闻
行业新闻
深圳市容微精密电子有限公司
深圳市容微精密电子有限公司
深圳市容微精密电子有限公司
深圳市容微精密电子有限公司
主营业务：晶圆测试解决方案及测试探针卡（CP），成品测试解决方案及测试插座（FT）、老化测试方案及老化座（BT），精密探针及导电胶系列产品。
联系我们

地址：深圳市龙华区观澜街道银星科技园智谷H栋

电话：0755-27976967 / 27976906

邮箱：info@en-micro.com

Copyright 2026 © 深圳市容微精密电子有限公司. All rights reserved.  粤ICP备16116799号