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晶圆测试
垂直探针卡
  • 垂直探针卡
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垂直探针卡

●测试针位精度可达±10μm

●待测物(DUT)上针痕细微

●提供平针和尖针两种探针类型

●适用于小间距90μm的细间距应用

●支持单针更换

●维修周期短

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主营业务:晶圆测试解决方案及测试探针卡(CP),成品测试解决方案及测试插座(FT)、老化测试方案及老化座(BT),精密探针及导电胶系列产品。
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