产品展示

测试座
  • 测试座
    测试座可根据客户需求完全定制 ●BGA/LGA Pitch:0.3 ~1.27mm ●DFN/QFN Pitch :0.4/0.5mm ●QFP Pitch:0.35/0.4/0.5mm
    查看详情
  • LHS 同轴测试座
    ●Pin 数 :~650 ●间距 Pitch :0.5mm ●封装尺寸 :13 x 13mm² ●Pin 数 :~6200 ●间距 Pitch:0.9 mm ●大型封装尺寸:72 x 7……
    查看详情
主营业务:晶圆测试解决方案及测试探针卡(CP),成品测试解决方案及测试插座(FT)、老化测试方案及老化座(BT),精密探针及导电胶系列产品。
联系我们

地址:深圳市龙华区观澜街道银星科技园智谷H栋

电话:0755-27976967 / 27976906

邮箱:info@en-micro.com

Copyright 2026 © 深圳市容微精密电子有限公司. All rights reserved.  粤ICP备16116799号