产品展示

晶圆测试
WLCSP 探针头
  • WLCSP 探针头
  • WLCSP 探针头
WLCSP 探针头

●优异的信号完整性和高电流承载能力

●定制化布局,组件间隙紧贴待测器件(DUT)

●适用于细间距应用(0.15~0.5mm)

●维护简便,安装快速

●提供多种盖板设计选项,包括独立弹簧、芯片压块和浮动器件导引机构

相关产品
主营业务:晶圆测试解决方案及测试探针卡(CP),成品测试解决方案及测试插座(FT)、老化测试方案及老化座(BT),精密探针及导电胶系列产品。
联系我们

地址:深圳市龙华区观澜街道银星科技园智谷H栋

电话:0755-27976967 / 27976906

邮箱:info@en-micro.com

Copyright 2026 © 深圳市容微精密电子有限公司. All rights reserved.  粤ICP备16116799号