容微精密电子

首页 > 产品展示 > 晶圆测试
垂直探针卡 垂直探针卡
垂直探针卡

●测试针位精度可达±10μm

●待测物(DUT)上针痕细微

●提供平针和尖针两种探针类型

●适用于小间距90μm的细间距应用

●支持单针更换

●维修周期短

  • 性能

热销产品

/ HOT PRODUCTS