●测试针位精度可达±10μm
●待测物（DUT）上针痕细微
●提供平针和尖针两种探针类型
●适用于最小间距90μm的细间距应用
●支持单针更换
●维修周期短

●测试针位精度可达±10μm
●待测物（DUT）上针痕细微
●提供平针和尖针两种探针类型
●适用于最小间距90μm的细间距应用
●支持单针更换
●维修周期短

●优异的信号完整性和高电流承载能力
●定制化布局，组件间隙紧贴待测器件（DUT）
●适用于细间距应用（0.15~0.5mm）
●维护简便，安装快速
●提供多种盖板设计选项，包括独立弹簧、芯片压块和浮动器件导引机构

●优异的信号完整性和高电流承载能力
●定制化布局，组件间隙紧贴待测器件（DUT）
●适用于细间距应用（0.15~0.5mm）
●维护简便，安装快速
●提供多种盖板设计选项，包括独立弹簧、芯片压块和浮动器件导引机构